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產(chǎn)品中心材料樣品檢測(cè)微型真空探針熱臺(tái)
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產(chǎn)品分類(lèi)
實(shí)驗(yàn)室微型四探針真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-03-27
產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z165M44RT
瀏覽量：2531
鄭科探微型真空探針臺(tái)廣泛應(yīng)用于表面分析、加速器技術(shù)、等離子體技術(shù)、電真空器件制造及真空的各個(gè)領(lǐng)域。設(shè)備的具體組成主要包括真空測(cè)量系統(tǒng)、真空室、閥門(mén)及真空管路、電器控制系統(tǒng)等
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：KT-Z165M44RT瀏覽量：1692低溫真空探針臺(tái)鄭科探主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-03-29產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：2034
低溫探針臺(tái) 高溫真空微型測(cè)試臺(tái) 真空探針臺(tái)主要應(yīng)用于傳感器，半導(dǎo)體，光電，集成電路以及封裝的測(cè)試。 廣泛應(yīng)用于復(fù)雜、高速器件的精密電氣測(cè)量的研發(fā)，旨在確保質(zhì)量及可靠性，并縮減研發(fā)時(shí)間和器件制造工藝的成本。
更新時(shí)間：2024-01-10產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1713真空測(cè)試微型探針臺(tái) 該腔體設(shè)計(jì)有進(jìn)氣口和抽真空接口其真空度用機(jī)械泵可達(dá)＜5Pa分子泵可達(dá)＜-3Pa。真空信號(hào)連接處使用級(jí)別真空電極信號(hào)接頭，保證氣密性及抗干擾性能。使用時(shí)將需將待檢測(cè)的器件方在加熱臺(tái)面，探針尖處由3軸可移動(dòng)探針手動(dòng)調(diào)節(jié)移動(dòng)至被測(cè)試器件的引腳處，外部信號(hào)線(xiàn)連接測(cè)試儀器來(lái)測(cè)試電學(xué)信號(hào)。
更新時(shí)間：2024-03-27產(chǎn)品型號(hào)：瀏覽量：1759
